Non-contact Mono-crystalline/Polycrystalline Silicon wafer/blick lifetime measurement

  • Product No:HF-300
  • Manufacturer:Napson Corp.

HF-300 is Non-contact Mono-crystalline/Polycrystalline Silicon wafer/blick lifetime measurement system by Napson.


  • Non-contact, non-damage measurement by μ-PCD

  • Suitable for mono-crystalline and polycrystalline silicon sample

  • Multipoint measurement & mapping image

  • Passivation with exclusive capsule (for wafer, bulk sample)    



  • Sample sizes
    [Wafer] <Square> ~ 210x210mm, <Circle> ~8 inch
    [Blick] Max. 210(W) x 210(H) x 500(D) mm 

  • Measuring range
    0.1 μS ~ 1000μS (*Compatible to resistivity range ; 0.1 ~ 1,000Ω・cm)
    <Laser unit> Type : Semiconductor laser diode,

  • Wave length : 905nm, Peak power : 60W, Pulse width : 80nS