GAM為反射和透射測試提供了一個獨特的高性能選項。這些系統能捕獲薄膜塗層的完整光譜和比色特性,掃描時間通常不到一秒。
多層膜厚度和樣品平面度也可以平行監測。
來自GAM的反射和透射測試系統有幾種配置。根據樣本類型和期望的測量結果,可以使用各種系統組態來測試拋光(鏡面)或粗糙(漫射)樣本。本手冊中包含了一個生產選擇指南,以説明您配置最佳的系統以滿足您的需要。
這些系統對於需要快速準確測量平板顯示器玻璃、防反射塗層檢查、光電(太陽能電池)塗層、光學濾光片、透鏡塗層、油漆樣品、漫射塑膠等的製造商來說是理想的。
對> 500μm厚的薄玻璃基板的隔離第一面表面測量
完整的光譜分析
測試塗層均勻性和比色分析
研發或生產的全週期測試
1,000,000:1對比度測量
測量最低到0.00015 cd / m²
CIE 1931 x,y 色度測量不確定度為0.0015
8毫秒最小測量時間
光譜範圍:310-930 nm,350-1100 nm,360-800nm
2米優質纖維光纜
通過檢測透鏡可看:6種不同的測量孔徑(5°,2°,1°,30',20',6')
USB接口
Windows基礎LightTouch控制/分析軟體
NIST可追蹤和ISO17025認證校準
GS-191FA-1045旋轉反射測量系統 | ||
191光學頭 | 10度 | 45度 |
測量類型 | 第一面表面鏡面反射 | 第一面表面鏡面反射 |
樣本類型 | 玻璃 | 玻璃 |
照明角度 | 10° | 45° |
可視角度 | 10° | 45° |
最小樣品厚度 (僅限第一表面反射) | 0.5mm(透明樣品) | 0.25mm(透明樣品) |
最大樣品厚度 | 6mm | 6mm |
最大樣本尺寸 | 客戶定義 一台機器可以支援 三種不同的面板尺寸 | 客戶定義 一台機器可以支援 三種不同的面板尺寸 |
光譜範圍 | 360nm-830nm | 360nm-830nm |
照明點尺寸(分析領域) | 1mm x 10µm | 1mm x 10µm |
測量速度 (取決於樣品) | <1500ms | <1500ms |
校準參考標準 | 內置BK-7拋光玻璃 | 內置BK-7拋光玻璃 |
旋轉系統規格 | ||
191光學頭 | 191F-1045雙角度光學器件 | |
每個面板的測量位置 | 三個測量位置標準 最多可配置五個位置 可配置為10和45度 在任何地點進行測量 | |
玻璃測量位置 | 八個玻璃測量位置 三個用於裝載/卸載 五個用於測量光學系統 | |
週期 | 每個面板<6秒, 裝載和卸載最多3秒 (如果載入/卸載超過3秒,則迴圈時間會增加) | |
系統尺寸 | 高度:1.75m 寬度:1.6m 深度:1.6m 重量:約1000kg | |
測量精度 | ||
光譜反射 | ± 0.5% | ± 0.5% |
三色 (CIE 1931 X,Y,Z) | ± 0.05 | ± 0.10 |
色度 (CIE 1931 x,y) | ± 0.005 | ± 0.005 |
LAB顏色 (CIE 1976 L *,a *,b *) | L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 | L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 |
平均反射率 | ± 0.2 | ± 0.2 |
報告的參數 | ||
光譜數據 | 作為波長的函數的反射率 | |
比色數據 | 具有2°或10°視角,(L *,a *,b *),(x,y),(u',v')的CIE三色激勵X,Y,Z和其他參數 |